ZEM15原位掃描電鏡（SEM）

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ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

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ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

電鏡主機(jī)特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無須對中光闌等復(fù)雜步驟；

亮度/對比度一鍵自適應(yīng)，自動/手動聚焦;

抽真空時間小于90秒；

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺，實現(xiàn)快速找樣及切換樣品；

信號采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；

四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

國內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù)；

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示；

原位拉伸臺參數(shù)

載荷范圍：0-1000N

位移分辨率：20nm

加熱模塊：可選

加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

品牌：澤攸科技

型號：ZEM15

加速電壓：1-15kV連續(xù)可調(diào)

探測器種類：二次電子探測器、背散射電子探測器、能譜儀

放大倍數(shù)：150000x

拉伸臺載荷大?。?000N

加載功能：拉伸、壓縮、彎曲

臺式掃描電鏡產(chǎn)品參數(shù)
環(huán)境要求	220V，50Hz，1kW，無需減震臺
加速電壓	1kV~15kV連續(xù)可調(diào)，1kV步進(jìn)
電子槍	預(yù)對中鎢燈絲，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)物鏡光闌(LaB6燈絲可選)
放大倍數(shù)	150000倍
探測器	二次電子探測器、可推出式背散射探測器、集成式能譜儀
樣品臺	XY電動樣品臺(五軸可選)、移動行程：30mmx30mm
樣品尺寸	φ50x35(H)mm
高真空模式	全自動控制，抽真空時間小于2分鐘
成像模式	視頻模式：512x512像素，無需小窗口掃描快速模式：掃描時間小于3秒，512x512像素慢掃模式：掃描時間小于40秒，2048x2048像素圖像格式：BMP，TIFF，JPEG，PNG
導(dǎo)航功能	光學(xué)CCD導(dǎo)航(非電子圖像導(dǎo)航)
自動功能	一鍵自動配置亮度、對比度、聚焦
整機(jī)尺寸	主機(jī)：283553505(mm) 機(jī)械泵：340160140(mm)
拓展功能	兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺